DE-Alarm
智能良率、品质异常检测及报警系统
简介
DE-Alarm系统是⼴⽴微为提升半导体制造质量⽽设计的关键解决⽅案。系统能 Real Time / Near Real Time自动报警 WAT、CP、FT、SLT的良率、参数异常和质量问题，可与客户ERP/MES系统对接处置Lot流程, 确保问题高效追溯，缺陷产品在出货前进行拦截，助于减少退货、换货、报废、返工和时间成本，从而节省数百万美元。
DE-Alarm 能够最大限度地减少客户投诉，保护品牌形象，并增强客户信任，而信任正是驱动业务成功的关键。
优势
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准确及时的检测和预防
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稳定⾼效的报警引擎
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架构
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主要功能
全面的报警规则设置
各类Yield/Bin/Parametric统计规则 (例如：Site or Zonal Gap, Wafer Pattern…)
各种数据质量验证规则 (例如：Duplicated ECID, Piggy Back, Map Shift,...)
确保报警规则的有效性和准确性
审批流程清晰，可视化呈现
模拟警报触发的故障
优化规则标准，避免报警检测失败
标准过松导致监控失败，标准过严导致误报过多
快速分析报警结果，及时采取措施
⽣成总结报告，通过查看报警的整体情况，确定是否存在聚集现象
查看报警触发看板，识别根本原因
