ICSpider
产品芯片成品率和性能诊断
ICSpider简介
ICSpider是一款用于产品芯片成品率和性能诊断的定制化测试芯片设计工具。产品导入和量产阶段，版图的物理环境变得更加复杂多样，每个产品芯片的设计成熟度和工艺敏感度都不同，会出现很多在工艺开发阶段未发现或者未重视的问题。
通过ICSpider，客户可以在保证产品芯片前道工艺层不变的前提下，用最少的代价改变后道工艺层，获取基于产品版图的器件电性参数，帮助客户更直观、高效、有针对性地提升产品成品率和性能指标。
通过ICSpider，客户可以在保证产品芯片前道工艺层不变的前提下，用最少的代价改变后道工艺层，获取基于产品版图的器件电性参数，帮助客户更直观、高效、有针对性地提升产品成品率和性能指标。
基于产品版图的电性测试
在保证产品芯片前道工艺层不变的前提下，改变后道工艺层，将关键器件直连到PAD，从而实现对产品芯片关键器件在真实物理环境下的直连测试
自动化后道工艺层改造全流程
全流程主要包括灵活的目标器件定义方式、强大的目标器件选取算法、支持目标器件自动识别和引脚提取以及强大的自动化绕线算法
主要功能
- 支持产品版图器件列表自动提取
- 内置数据库引擎，可支持MySQL存储和管理器件列表
- 灵活的目标器件定义方式
- 强大的目标器件选取算法
- 支持目标器件自动识别和引脚提取
- 强大的自动化绕线算法
- 内置绕线的差错检查
- 内置DRC的无差错设计
- 支持LVS自动验证
- 支持多用户协同工作模式
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应用案例
在一个技术开发项目中，公司通过ICSpider工具设计的产品诊断芯片，对产品中大量器件进行实际性能的测试，发现在数以百万级的器件中，部分器件电性参数偏离模型、速度过快。
通过对设计版图的仔细分析，发现该部分器件的设计特征共性与性能偏离的物理原因。一方面，项目组将该发现反馈到代工厂的技术团队，进行有针对性的工艺排查；另一方面，通过改进版图、生成新的光罩，直接调整相应的器件特性，在保持产品速度性能的前提下，降低了芯片的整体功耗。
