QuanTest
可测性设计自动化和成品率诊断解决方案
QuanTest简介
随着半导体工艺制程的发展，芯片在生产过程产生缺陷的概率越来越大。为了达到DPPM（百万分比的缺陷率）的苛刻要求，芯片出厂前需要进行严格测试，剔除有缺陷的产品。QuanTest可提供领先的可测性设计自动化和成品率诊断解决方案，轻松应对业界复杂的SoC芯片的量产测试、成品率提升的挑战，取得质量与成本双赢。
平台优势
- 涵盖DFT全流程工具，支持MCU、AI、GPU、Network、5G基带、AP等不同应用领域芯片和规模的DFT设计实现需求，并且支持系统级测试的In-System-Test，以支持汽车电子的功能安全测试方案。
- 全方位的良率提升方案，可以适应不同工艺、不同Fab的要求。通过DFT Diagnosis和Fab 大数据分析系统，可快速发现影响良率的根因，建立提升方案。
- 从DFT的测试诊断结果，可结合DATAEXP-YMS中多维度的芯片相关数据，如产品版图、WAT/CP/FT测试数据、产线上的工艺步骤、设备、和缺陷等监控数据，从而更精准地识别故障行为和分析故障根因，加速芯片产品上市场的周期。
- DFT自动化实现流程，以及完备的版本验收流程。同时支持RTL和Netlist Flow，并且通过Hierarchical DFT 和Hierarchical ATPG流程，加速产品Time-To-Market；建立完备的版本验收流程，满足各种工艺设计的DPPM要求。
